화공계측실험 Pre-Report -Atomic Force Microscope

1.실험 제목

Atomic Force Microscope, 즉 원자력 현미경(Atomic Force Microscope, AFM)은 물질의 표면을 나노미터 단위로 정밀하게 측정할 수 있는 고해상도 이미징 기술이다. AFM은 주로 물리학, 생명공학, 재료 과학 및 나노기술 분야에서 널리 사용되며, 특히 생물학적 시료나 복합재료의 분석에 뛰어난 성능을 발휘한다. 이 실험은 Atomic Force Microscope를 이용하여 샘플의 표면 형상 및 물리적 특성을 측정하고 분석하는 과정을 통해, 미세구조와 매크로 특성 간의 연관성을 탐구하기 위한 것이다. AFM의 작동 원리는 첨단 탐침이 샘플의 표면을 스캔하면서 반발력이나 인력과 같은 원자 간 상호작용을 측정하는 데 있다. 이 과정에서 AFM 탐침은 작은 힘들에 의해 샘플 표면의 높낮이를 세밀하게 감지하며, 이를 통해 3차원 표면 이미지를 생성한다. AFM은 전통적인 광학 현미경으로는 관측할 수 없는 나노미터 및 원자 단위의 구조를 시각화할 수 있는 능력이 있어, 나노스케일의 물체를 연구하는 데 필수적인 도구로 자리 잡았다. 실험 과정에서는 먼저 샘플을 준비한 후, AFM 장비의 설정을 완료하고, 탐침을 샘플 위로 이동시켜 측정을 실시한다. 이후 얻어…(생략)