온도변화에 따른 Metal과 Semiconductor의 저항변화(결과 레포트)

1. 실험 방법

온도 변화에 따른 금속과 반도체의 저항 변화를 이해하기 위해 실험을 설계하였다. 실험은 금속과 반도체 샘플 각각에 대해 동일하게 진행되며, 저항 측정을 통해 온도 변화가 어떻게 저항에 영향을 미치는지를 관찰하고 분석한다. 먼저, 필요한 장비와 재료를 준비하였다. 여기에는 이동식 온도 조절 장치가 포함된 크라이오스타, 정밀 저항 측정기, 금속 및 반도체 샘플, 그리고 열전대가 있다. 금속 샘플로는 구리와 알루미늄을 사용하고, 반도체 샘플로는 실리콘과 게르마늄을 선택하였다. 샘플을 준비하는 과정에서는 각 샘플의 형상과 크기를 일정하게 만들어 반복 측정의 정확성을 높인다. 샘플의 저항을 측정하기 위해, 각각의 샘플에 전극을 부착하여 전류가 흐를 수 있는 경로를 확보한다. 전극은 전도성이 뛰어난 납이나 금을 사용하여 연결하며, 전극과 샘플의 접촉 저항을 최소화하기 위해 정밀한 접촉을 유지하는 것이 중요하다. 온도 조절 장치는 실험을 실시하기 전에 미리 점검하여 정확한 온도를 설정할 수 있도록 한다. 기본적으로 저온에서 저항을 측정하기 위해 실험 샘플을 크라이오스타 내부에 배치하고, 그렇지 않은 경우에도 적절한…(생략)