[고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석

Ⅰ. Abstract

AFM(원자력 현미경)은 나노미터 수준의 표면 구조를 분석하는 데 유용한 도구로, 최근 들어 고분자 화학 분야에서도 그 응용이 확대되고 있다. ITO(인듐 주석 산화물) 유리는 투명 전도성 기재로서, 다양한 전자 소자 및 광학 장비에서 중요한 역할을 한다. 본 레포트에서는 AFM을 이용해 ITO 유리의 표면 특성을 분석하고, 이로부터 얻은 데이터를 기반으로 ITO 유리의 물성에 대한 통찰을 제공하고자 한다. AFM은 표면의 미세 구조와 형태학적 특성을 고해상도로 이미지화할 수 있기 때문에, ITO 유리의 결함, 나노스케일의 표면 거칠기, 및 분포 등을 정밀하게 평가할 수 있다. 이러한 분석을 통해 ITO 유리의 전도성 향상 및 고분자 필름의 접착력 향상과 같은 물질적 특성을 개선할 수 있는 기초 자료를 수집할 수 있다. 또한, ITO 유리 표면에 대한 고분자의 코팅 및 격리 등 다양한 화학적 변화를 통해 나타나는 미세 구조 변화를 관찰함으로써, 고분자와 ITO 유리 간의 인터페이스 상호작용에 대한 이해를 깊이 할 수 있다. 이러한 연구는 투명 전극, 태양광 패널, OLED 등 다양한 전자 소자의 혁신적인 개발에 기여할 수 있는 중요한 기초 조건을 만…(생략)