4 point probe resistivity measurement 예비보고서

1.실험목적

4 점 프로브 저항 측정법은 전자재료의 전기적 특성을 평가하는 데 중요한 기술로, 특히 반도체 및 절연체의 저항 측정에 널리 활용된다. 이 실험의 목적은 다양한 재료의 전기적 특성을 정확하게 측정하고 분석하여 그 재료의 적합성을 결정하는 것이다. 효과적인 저항 측정을 위해 4 점 프로브 방식을 사용하는 이유는 전극 간의 접촉 저항을 최소화하고 샘플 저항만을 정확하게 측정할 수 있기 때문이다. 일반적인 2 점 측정 방법에서는 전류와 전압 측정이 같은 프로브를 통해 이루어지므로, 전극의 접촉 저항이 전체 측정 결과에 영향을 미칠 수 있다. 4 점 프로브는 전류를 인가하는 두 개의 전극과 전압을 측정하는 두 개의 전극으로 구성되어 있어, 전극 간의 접촉 저항이 전압 측정에 미치는 영향을 무시할 수 있는 장점이 있다. 이 방식은 샘플의 물질적 특성과 두께에 따라 변화하는 저항을 더욱 정밀하게 측정할 수 있도록 해준다. 실험을 통해 다양한 종류의 샘플에 대해 저항 측정 값을 얻고, 이를 통해 해당 재료의 전도성 및 전기적 특성에 대한 통찰을 얻는 것은 재료 공학 및 반도체 물리 분야에서 필수적이다. 또한, 이 실험은 재료의 온도 …(생략)