x선 회절분석기 ( X-ray Diffractometer; XRD )

X-선은 1985년 독일의 물리학자 Roentgen(뢴트겐)에 의해서 발견되었다. X-선의 본질은 빛(光)을 위시해서 라디오파, γ-ray등과 함께 파장이 각기 다른 전자기파에 속한다.
X-선은 뢴트겐에 의해 발견된 후 물질의 내부를 밝히는데 있어 단순한 X-선의 투과력에 의한 10-1 cm 정도의 해상력(resolution)에 국한하는 `Radiography` 뿐만 아니라 원자구조 수준의 A(10-10 m) 정도의 물질의 내부구조를 밝히는데 이용될 수 있다는 소위 `X-ray diffraction (XRD)` 현상이 확립된 것은 독일의 Laue에 의한 X-선 회절실험이 성공한 이후이며 이것은 또한 X-선의 파동성과 결정내의 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 되기도 하였다.
한편 Laue에 의한 X-선 회절실험결과를 같은 해 영국의 Bragg는 훌륭하게 이를 다시 다른 각도에서 해석하였고 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Bragg`s Law ( 2dsinθ=nλ)로 나타내었으며 이 X-선 회절 현상을 이용하여 각종 물질의 결정구조를 밝히는 일에 성공하였다.

2. X선의 측정법

X선을 사용하는 측정법은 1)X선 투과법 2) X선 분광법 3)X선 회절법으로 크게 나뉘어진다. 각각…(생략)